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IEC 60147-2C:1970

Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 2: Allgemeine Grundlagen für Meßverfahren; 3. Ergänzung

Englischer Titel

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.

Ausgabedatum

1970

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Originalsprachen

Englisch, Französisch

Seiten

73