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IEC 60147-5:1977
Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 5: Mechanische und klimatische Prüfmethoden
- Englischer Titel
- Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods
- Ausgabedatum
- 1977
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 37
- Ausgabedatum
- 1977
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 37
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