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IEC 60749-11 Corrigendum 1:2003-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren

Englischer Titel

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method

Ausgabedatum

2003-01

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