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IEC 60749-12:2017-12

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 12: Schwingen, variable Frequenz

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
Ausgabedatum: 2017-12
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 14

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