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IEC 60749-12:2002-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 12: Schwingen, variable Frequenz

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
Ausgabedatum
2002-04
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
7
Ausgabedatum
2002-04
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
7
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Dieser Artikel wurde geändert durch: IEC 60749-12 Corrigendum 1:2003-08

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