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IEC 60749-18:2019-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
Ausgabedatum
2019-04
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
44
Ausgabedatum
2019-04
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
44
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