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IEC 60749-23:2004-02

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Ausgabedatum: 2004-02
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 26

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