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IEC 60749-26:2006-07
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM)
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
- Ausgabedatum
- 2006-07
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 27
- Ausgabedatum
- 2006-07
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
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