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IEC 60749-28:2022-03

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
Ausgabedatum
2022-03
Barrierefreiheit

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Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
98
Ausgabedatum
2022-03
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Englisch, Französisch
Seiten
98
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