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IEC 60749-3:2002-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
- Ausgabedatum
- 2002-04
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 7
- Ausgabedatum
- 2002-04
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 7
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