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IEC 60749-32 AMD 1:2010-07
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 32: Entflammbarkeit von Bauelementen in Kunststoffgehäusen (Fremdentzündung)
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
- Ausgabedatum
- 2010-07
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 4
- Ausgabedatum
- 2010-07
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- Englisch, Französisch
- Seiten
- 4
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