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IEC 60749-34:2005-11

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung

Englischer Titel

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

Ausgabedatum

2005-11

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Originalsprachen

Englisch, Französisch

Seiten

30