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IEC 60749-36:2003-02

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 36: Gleichmäßiges Beschleunigen

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Ausgabedatum: 2003-02
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 16

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