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IEC 60749-4:2002-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Ausgabedatum
2002-04
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
15
Ausgabedatum
2002-04
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
15
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