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IEC 60749-43:2017-06

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden Pläne zur Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
Ausgabedatum: 2017-06
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 74

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