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IEC 60749-5:2003-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Ausgabedatum: 2003-01
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 22

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