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IEC 60749-5:2003-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung

Englischer Titel

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Ausgabedatum

2003-01

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Originalsprachen

Englisch, Französisch

Seiten

22