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IEC 60749-6:2002-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur

Englischer Titel

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Ausgabedatum

2002-04

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Originalsprachen

Englisch, Französisch

Seiten

7