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IEC 60749-7:2011-06

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 7: Messung des inneren Feuchtegehaltes und Analyse von anderen Restgasen

Englischer Titel

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Ausgabedatum

2011-06

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Originalsprachen

Englisch, Französisch

Seiten

21