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IEC 60749 AMD 1:1991-11

Halbleiterbauelemente; Mechanische und klimatische Prüfverfahren; Änderung 1

Englischer Titel: Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 1
Ausgabedatum: 1991-11
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Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 33

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