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IEC 60749 AMD 2:1993-09
Halbleiterbauelemente; mechanische und klimatische Prüfverfahren; Änderung 2
- Englischer Titel
- Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 2
- Ausgabedatum
- 1993-09
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 31
- Ausgabedatum
- 1993-09
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
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