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IEC 61169-1-5:2022-02
Hochfrequenz-Steckverbinder - Teil 1-5: Elektrische Prüfverfahren - Verschlechterung der Anstiegszeit
- Englischer Titel
- Radio frequency connectors - Part 1-5: Electrical test methods - Rise time degradation
- Ausgabedatum
- 2022-02
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 24
- Ausgabedatum
- 2022-02
- Originalsprachen
- Englisch, Französisch
- Seiten
- 24
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Einführungsbeitrag
Teil 1 der IEC 61169 ist die Zusammenstellung der Normen für Prüfverfahren zu IEC 61169.
Teil 1-5 trägt den Titel: Messung der 'rise time degradation', also die Verlängerung der Anstiegszeit eines digitalen Signals, die durch das Einfügen eines Bauelementes in eine HF-Leitung hervorgerufen wird. Diese Messung wird mit Hilfe eines HF-Signalgenerators und eines Oszilloskops vorgenommen. Die Anstiegszeit ist definiert als die Zeit, die die ansteigende Spannung des digitalen Signals benötigt, um von 20% seiner Amplitude auf 80% seiner Amplitude anzuwachsen. In älteren Normen zu dieser Art von Meßverfahren wurde die Anstiegszeit zwischen 10% und 90% gemessen. Die vorliegende Norm beschreibt die Vorbereitung der Prüflinge, sowie das Meßverfahren.
IEC 61169-21 wurde vom IEC Subcommittee 46F: 'RF and Microwave Passive Components' ausgearbeitet.