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Die Internationale Norm IEC 61300-3-35 basiert auf dem Schlussentwurf IEC/SC 86B/2909/FDIS.
In der Norm werden die Grundlagen sowie die Verfahren und Methoden zur quantitativen Beurteilung der Endflächen von Lichtwellenleiter-Steckverbindern beschrieben. Ausgehend von der Definition typischer Oberflächenverunreinigungen und -defekte werden Verfahren, Methoden und Richtlinien zur Beurteilung der Steckverbinder in Abhängigkeit vom Schlifftyp des Steckverbinders, vom Fasertyp und von den Anforderungen an die Rückflussdämpfung des Steckverbinders behandelt. In einem ersten Anhang werden Beispiele zur quantitativen Beurteilung anhand von typischen Bildern angegeben. In einem zweiten Anhang wird auf die Herstellung von Vergleichsnormalen, die als Grundlage zur Beurteilung der Endflächen benötigt werden, Bezug genommen.
Es ist beabsichtigt, die Norm als DIN IEC 61300-3-35 zu übernehmen. Die Übernahme erfolgt nach Erscheinen der korrespondierenden Europäischen Norm, voraussichtlich im Jahr 2010.
Dieser Artikel wurde geändert durch: IEC 61300-3-35 Corrigendum 1:2010-06