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Die IEC-Norm basiert auf dem Schlussentwurf IEC 86B/1906/RVD. Das IEC/86B "LWL-Verbindungstechnik und passive Komponenten" hat entschieden, dass der Inhalt dieser Norm bis 2008 unverändert bleiben soll. Ab diesem Zeitpunkt wird sie entsprechend den Entscheidungen des IEC-Komitees entweder bestätigt, zurückgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder geändert.
In der Internationalen Norm wird die Untersuchung des erwarteten Lebensdauermusters von fünf Jahren für optische Stecker, Spleiße, Verzweiger und andere Bauteile beschrieben. Dieser Teil bezieht sich speziell auf die Lebensdauer, wie sie aus der beschleunigten Prüfung für die erwartete Lebensdauer nach IEC 62005-2 hervorgegangen ist. Im Prüfbericht werden erhöhte Temperaturen über längere Zeiträume zur beschleunigten Alterung gefordert. Die freigesetzte Energie durch chemische Prozesse und die Anzahl der verwendeten Prüfmuster und der Nachweis über die Lebenserwartung von fünf Jahren müssen nachgewiesen werden.