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IEC 62951-1:2017-04

Halbleiterbauelemente - Flexible und dehnbare Halbleiterbauelemente - Teil 1: Biegeprüfverfahren für elektrisch leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten

Englischer Titel

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates

Ausgabedatum

2017-04

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Originalsprachen

Englisch

Seiten

15