Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Bestimmung geometrischer Kenngrößen mit Rastersondenmikroskopie: Kalibrierung von Messsystemen

Norm [AKTUELL]

ISO 11952:2019-05

Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Bestimmung geometrischer Kenngrößen mit Rastersondenmikroskopie: Kalibrierung von Messsystemen

Englischer Titel
Surface chemical analysis - Scanning-probe microscopy - Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
Ausgabedatum
2019-05
Originalsprachen
Englisch
Seiten
58

ab 233,60 EUR inkl. MwSt.

ab 218,32 EUR exkl. MwSt.

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