Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilanalyse - Verfahren zur Bestimmung der Sputterrate bei Sputtertiefenprofilanalyse mit Röntgenphotoelektronenmikroskopie, Augerelektronenmikroskopie, und Sekundärionenmassensprktometrie bei ein- und mehrlagigen Dünnschichten

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 17109:2015-08

Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilanalyse - Verfahren zur Bestimmung der Sputterrate bei Sputtertiefenprofilanalyse mit Röntgenphotoelektronenmikroskopie, Augerelektronenmikroskopie, und Sekundärionenmassensprktometrie bei ein- und mehrlagigen Dünnschichten

Englischer Titel
Surface chemical analysis - Depth profiling - Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
Ausgabedatum
2015-08
Originalsprachen
Englisch
Seiten
16

ab 114,50 EUR inkl. MwSt.

ab 107,01 EUR exkl. MwSt.

Format- und Sprachoptionen

PDF-Download 1

  • 114,50 EUR

Versand (3-5 Werktage) 1

  • 129,40 EUR

Mit dem Normenticker beobachten

1

 Achtung: Dokument zurückgezogen!

Einfach Abo: Jetzt Zeit und Geld sparen!

Dieses Dokument können Sie auch abonnieren – zusammen mit anderen wichtigen Normen Ihrer Branche. Das macht die Arbeit leichter und rechnet sich schon nach kurzer Zeit.

Sparschwein_data
Abo Vorteile
Sparschwein Vorteil 1_data

Wichtige Normen Ihrer Branche, regelmäßig aktualisiert

Sparschwein Vorteil 2_data

Viel günstiger als im Einzelkauf

Sparschwein Vorteil 3_data

Praktische Funktionen: Filter, Versionsvergleich und mehr

Ausgabedatum
2015-08
Originalsprachen
Englisch
Seiten
16
Lade Empfehlungen...

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Inhaltsverzeichnis

ICS

71.040.40
Ersatzvermerk

Dokument wurde ersetzt durch ISO 17109:2022-03 .

Normen mitgestalten

Lade Empfehlungen...