Mikrobereichsanalyse - Analytische Transmissionselektronenmikroskopie - Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrösserung durch periodische Muster in Schichtstrukturen

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 29301:2010-06

Mikrobereichsanalyse - Analytische Transmissionselektronenmikroskopie - Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrösserung durch periodische Muster in Schichtstrukturen

Englischer Titel
Microbeam analysis - Analytical transmission electron microscopy - Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
Ausgabedatum
2010-06
Originalsprachen
Englisch
Seiten
40

ab 74,40 EUR inkl. MwSt.

ab 69,53 EUR exkl. MwSt.

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2010-06
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Englisch
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40

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Inhaltsverzeichnis

ICS

37.020
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