Norm [AKTUELL]

NF EN 60749-29:2012-08-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: latch-up test
Ausgabedatum: 2012-08-01
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Originalsprachen: Französisch
Seiten: 29