Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 61788-15:2012-09-01

Supraleitfähigkeit - Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Oberflächenimpedanz von Supraleiterschichten bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-15:2011) (deutsche Fassung)

Englischer Titel: Superconductivity - Part 15: Electronic characteristic measurements - Intrinsic surface impedance of superconductor films at microwave frequencies (IEC 61788-15:2011) (german version)
Ausgabedatum: 2012-09-01
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Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 48