Norm [ZURÜCKGEZOGEN] Artikel ist nicht bestellbar

OVE EN 60749-5:2018-02-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2017) (deutsche Fassung)

Englischer Titel

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017) (german version)

Ausgabedatum

2018-02-01

Barrierefreiheit

Zum Grad der Barrierefreiheit dieses Dokuments können wir zurzeit keine Angaben machen.

Noch nicht bestimmt

Barrierefreiheit noch nicht geprüft

E-Books

Bitte schauen Sie später noch einmal nach. Informationen zum Grad der Barrierefreiheit finden Sie hier spätestens, sobald das E-Book bestellbar ist.

Normen, Technische Regeln, E-Learnings und andere Angebote ohne Buchcharakter

Diese Produkte gehören nicht zum Anwendungsbereich des Barrierefreiheitsstärkungsgesetzes (BFSG §1, Abs. 3).

Originalsprachen

Deutsch

Seiten

12