Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2017) (deutsche Fassung)

Norm [ZURÜCKGEZOGEN] Artikel ist nicht bestellbar

OVE EN 60749-5:2018-02-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2017) (deutsche Fassung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017) (german version)
Ausgabedatum
2018-02-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
12
Ausgabedatum
2018-02-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
12
Lade Empfehlungen...

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Ersatzvermerk

Dokument wurde ersetzt durch OVE EN IEC 60749-5:2024-10-01 .

Lade Empfehlungen...