Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-27:2006-08

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Ausgabedatum: 2006-08
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Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 13