Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-43:2017-09

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden Pläne zur Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
Ausgabedatum: 2017-09
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Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 38