Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung

Technische Regel [AKTUELL]

VDI/VDE 2655 Blatt 1.3:2020-02

Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung

Englischer Titel
Optical metrology of microtopographies - Calibration of interferometers and interference microscopes for form measurement
Ausgabedatum
2020-02
Barrierefreiheit

Barrierefreiheit noch nicht geprüft

2023-02-20-rechtlicherUmgangBIMTeaser-704x396

E-Books

Bitte schauen Sie später noch einmal nach. Informationen zum Grad der Barrierefreiheit finden Sie hier spätestens, sobald das E-Book bestellbar ist.


Normen, Technische Regeln, E-Learnings und andere Angebote ohne Buchcharakter

Diese Produkte gehören nicht zum Anwendungsbereich des Barrierefreiheitsstärkungsgesetzes (BFSG §1, Abs. 3).

Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
50

ab 131,10 EUR inkl. MwSt.

ab 122,52 EUR exkl. MwSt.

Format- und Sprachoptionen

PDF-Download

  • 131,10 EUR

Versand (3-5 Werktage)

  • 145,90 EUR

Mit dem Normenticker beobachten

Diese Option ist erst nach dem Login möglich.
Einfach Abo: Jetzt Zeit und Geld sparen!

Dieses Dokument können Sie auch abonnieren – zusammen mit anderen wichtigen Normen Ihrer Branche. Das macht die Arbeit leichter und rechnet sich schon nach kurzer Zeit.

Sparschwein_data
Abo Vorteile
Sparschwein Vorteil 1_data

Wichtige Normen Ihrer Branche, regelmäßig aktualisiert

Sparschwein Vorteil 2_data

Viel günstiger als im Einzelkauf

Sparschwein Vorteil 3_data

Praktische Funktionen: Filter, Versionsvergleich und mehr

Zu passenden Online-Diensten
Ausgabedatum
2020-02
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
50
Lade Empfehlungen...

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Kurzreferat

Die Richtlinie charakterisiert die Interferenzmikroskope in ihren messtechnischen Eigenschaften zum Messen der Oberflächen von Formelementen. Darin eingeschlossen sind die Rückführung und die Berechnung der Messunsicherheit beim Messen von Form-Kenngrößen. Die beschriebenen Verfahren sind zusätzlich zu den in VDI 2655 Blatt 1.1 genannten Interferenzmikroskopen auch auf Interferometer anwendbar, deren Messfelder Abmessungen bis ca. Ø 20 mm haben können.

Inhaltsverzeichnis

ICS

17.180.01
Auch enthalten in
Lade Empfehlungen...