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VDI/VDE 5575 Blatt 6:2018-09

Röntgenoptische Systeme - Reflexionszonenplatten

Englischer Titel
X-ray optical systems - Reflexion zone plates
Ausgabedatum
2018-09
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
8

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Kurzreferat
Reflexionszonenplatten haben spektral selektive und zugleich fokussierende und dispersive Eigenschaften. Sie werden unter anderem in der Röntgenmikroskopie und der Röntgenspektroskopie eingesetzt. Die Richtlinie beschreibt die physikalischen Grundlagen von Reflexionszonenplatten für Röntgenstrahlen. Als wichtige Bauformen werden Totalreflexions- sowie Bragg-Fresnel-Zonenplatten vorgestellt. Der Aufbau der Reflexionszonenplatten, typische Parameter zur Charakterisierung und die Abhängigkeiten zwischen einzelnen Kenngrößen werden diskutiert. Diese Richtlinie definiert wichtige Kenngrößen von Reflexionszonenplatten und erleichtert damit die Kommunikation zwischen Anbietern und Nutzern dieser Röntgenoptiken. Insbesondere ermöglicht es diese Richtlinie Entwicklern von röntgenoptischen Systemen, Reflexionszonenplatten als Element für Röntgenmikroskope und Spektroskopie richtig zu bewerten und zu spezifizieren.
Inhaltsverzeichnis
ICS
17.180.30
Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt VDI/VDE 5575 Blatt 6:2011-12 .

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