Vornorm [VORBESTELLBAR]
DIN IEC/TS 60904-1-2:2026-11
VDE V 0126-4-1-2:2026-11
Photovoltaische Einrichtungen - Teil 1-2: Messen der Strom-Spannungs-Kennlinien von bifazialen photovoltaischen (PV) Einrichtungen (IEC TS 60904-1-2:2024 + AMD1:2026)
- Englischer Titel
- Photovoltaic devices - Part 1-2: Measurement of current-voltage characteristics of bifacial photovoltaic (PV) devices (IEC TS 60904-1-2:2024 + AMD1:2026)
- Ausgabedatum
- 2026-11
- Barrierefreiheit
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- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 21
- Verfahren
- Vornorm
- Ausgabedatum
- 2026-11
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 21
- Verfahren
- Vornorm
Produktinformationen auf dieser Seite:
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Einführungsbeitrag
Dieses Dokument beschreibt Verfahren zum Messen von Strom-Spannungs-Kennlinien (I-U-Kennlinien) bifazialer photovoltaischer Einschichteinrichtungen in natürlichem oder simuliertem Sonnenlicht. Es ist anwendbar für gekapselte Solarzellen, Baugruppen solcher Zellen oder vollständige PV-Module. Die Anforderungen an die Messung der I-U-Kennlinien von üblichen (monofazialen) PV-Einrichtungen sind in IEC 60904-1 beschrieben. Für Messungen von I-U-Kennlinien nicht gekapselter Solarzellen gilt IEC TS 63202-3. Dieses Dokument kann für PV-Einrichtungen angewendet werden, die für den Gebrauch in konzentrierter Bestrahlung ausgelegt sind, wenn sie ohne die Optik für die Konzentration gemessen und direkt normal bestrahlt werden und eine Korrektur der Fehlanpassung auf das direkte normale Referenzspektrum durchgeführt wird.
Dieses Dokument ersetzt DIN IEC/TS 60904-1-2:2022-04; VDE V 0126-4-1-2:2022-04 .
Gegenüber DIN IEC/TS 60904-1-2 (VDE V 0126-4-1-2):2022-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Der Anwendungsbereich wurde aktualisiert und verweist für die Messung von nicht gekapselten Solarzellen auf IEC TS 63202-3. b) Die Anforderungen für die Inhomogenität der Bestrahlungsstärke wurden aktualisiert und nehmen nun Bezug auf Klassifizierungen, die in IEC 60904-9 eingeführt wurden. c) Die Anforderung für den nicht bestrahlten Hintergrund wurden überarbeitet. d) Korrekturen der spektralen Fehlanpassung sind nicht mehr verbindlich, wenn nicht durch eine andere Norm gefordert. Die spektrale Fehlanpassung müsste in der Messunsicherheit berücksichtigt werden. e) Die Anforderung hinsichtlich der Berechnung der Bifazialität wurde geändert: Die äquivalente Bestrahlungsstärke darf nicht auf dem Mindestwert der Bifazialität zwischen ISC und Pmax beruhend berechnet werden, sondern auf der Bifazialität von ISC.