Norm-Entwurf
DIN EN IEC 61189-3-302:2025-11 - Entwurf
Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 3-302: Erkennung von Beschichtungsfehlern in unbestückten Leiterplatten durch Computertomographie (CT) (IEC 91/1973/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 61189-3-302:2024
- Englischer Titel
- Test methods for electrical materials, printed board and other interconnection structures and assemblies - Part 3-302: Detection of plating defects in unpopulated circuit boards by computed tomography (CT) (IEC 91/1973/CDV:2024); German and English version prEN IEC 61189-3-302:2024
- Erscheinungsdatum
- 2025-10-31
- Ausgabedatum
- 2025-11
- Originalsprachen
- Deutsch, Englisch
- Seiten
- 32
- Erscheinungsdatum
- 2025-10-31
- Ausgabedatum
- 2025-11
- Originalsprachen
- Deutsch, Englisch
- Seiten
- 32
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/3649945
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Einführungsbeitrag
In diesem Dokument wird ein Verfahren zur Erkennung von Beschichtungsfehlern in unbestückten Leiterplatten durch Computertomographie (CT) beschrieben. Dieses Dokument ist auf die zerstörungsfreie Prüfung metallisierter Löcher anwendbar. Durch seine Anwendung erhöht das Dokument die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender, gibt Prüflaboratorien und Herstellern definierte Informationen für die Prüfung.
ICS
31.180
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/3649945
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