Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden zur Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie mittels Lift-out-Methode unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlsystems

Norm-Entwurf

ISO/DIS 16887:2026-03 - Entwurf

Mikrobereichsanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Leitfäden zur Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie mittels Lift-out-Methode unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlsystems

Englischer Titel
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Guidelines for transmission electron microscopy specimen preparation by lift-out method using focused ion beam system
Ausgabedatum
2026-03
Originalsprachen
Englisch
Seiten
24

ab 76,70 EUR inkl. MwSt.

ab 71,68 EUR exkl. MwSt.

Format- und Sprachoptionen

PDF-Download

  • 76,70 EUR

Versand (3-5 Werktage)

  • 86,70 EUR

Mit dem Normenticker beobachten

Diese Option ist erst nach dem Login möglich.
Einfach Abo: Jetzt Zeit und Geld sparen!

Dieses Dokument können Sie auch abonnieren – zusammen mit anderen wichtigen Normen Ihrer Branche. Das macht die Arbeit leichter und rechnet sich schon nach kurzer Zeit.

Sparschwein_data
Abo Vorteile
Sparschwein Vorteil 1_data

Wichtige Normen Ihrer Branche, regelmäßig aktualisiert

Sparschwein Vorteil 2_data

Viel günstiger als im Einzelkauf

Sparschwein Vorteil 3_data

Praktische Funktionen: Filter, Versionsvergleich und mehr

Ausgabedatum
2026-03
Originalsprachen
Englisch
Seiten
24

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Normen mitgestalten

Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...