Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Leitfaden für das Verfahren und die Vorgehensweise zur Bestimmung der Temperatureffekte auf AFM-Dimensionalmessungen

Norm-Entwurf

ISO/DIS 4508:2025-02 - Entwurf

Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Leitfaden für das Verfahren und die Vorgehensweise zur Bestimmung der Temperatureffekte auf AFM-Dimensionalmessungen

Englischer Titel
Surface chemical analysis - Scanning probe microscopy - Guideline for the method and procedure for determining the temperature effects on AFM dimensional measurements
Ausgabedatum
2025-02
Originalsprachen
Englisch
Seiten
13

ab 74,40 EUR inkl. MwSt.

ab 69,53 EUR exkl. MwSt.

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