Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung der Punktauflösung eines hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskops

Norm-Entwurf

ISO/FDIS 25387:2026-03 - Entwurf

Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung der Punktauflösung eines hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskops

Englischer Titel
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscopes
Ausgabedatum
2026-03
Originalsprachen
Englisch
Seiten
52

ab 233,60 EUR inkl. MwSt.

ab 218,32 EUR exkl. MwSt.

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2026-03
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Englisch
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52

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Dieses Dokument ersetzt ISO/DIS 25387:2025-07 .

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