Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes von Einkristallen aus Silicium oder Germanium mit dem Vier-Sonden-Gleichstrom-Verfahren bei linearer Anordnung der Sonden

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN 50431:1980-09

Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes von Einkristallen aus Silicium oder Germanium mit dem Vier-Sonden-Gleichstrom-Verfahren bei linearer Anordnung der Sonden

Englischer Titel
Testing of semi-conducting inorganic materials; measurement of the electrical resistivity of silicon or germanium single crystals by means of the four-point-probe direct current method with collinear four probe array
Ausgabedatum
1980-09
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
5

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ab 33,27 EUR exkl. MwSt.

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1980-09
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Deutsch
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5

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