Norm [AKTUELL]
DIN EN 61788-16:2013-11
VDE 0390-16:2013-11
Supraleitfähigkeit - Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik - Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-16:2013); Deutsche Fassung EN 61788-16:2013
- Englischer Titel
- Superconductivity - Part 16: Electronic characteristic measurements - Power-dependent surface resistance of superconductors at microwave frequencies (IEC 61788-16:2013); German version EN 61788-16:2013
- Ausgabedatum
- 2013-11
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 34
- Ausgabedatum
- 2013-11
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 34
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Einführungsbeitrag
Der Gegenstand dieses Dokuments umfasst die Beschreibung des Standard-Messverfahrens des leistungsabhängigen Oberflächenwiderstandes von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen nach der Saphirresonator-Methode. Messgröße ist die Leistungsabhängigkeit dieses Widerstandes bei der Resonanzfrequenz. Die folgenden geeigneten Messbereiche zur Bestimmung der Oberflächenwiderstände für diese Methode sind: Frequenzen bis maximal 10 GHz Eingangs-Mikrowellenleistung kleiner als 37 dBm (5 W). Die Angaben des Oberflächenwiderstandes bei der gemessenen Frequenz und die auf 10 GHz skalierten Werte sind zum Vergleich anzugeben. Zuständig ist das DKE/K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE