Mikrobereichsanalyse - Leitfaden zur Messung der Orientierung mit Elektronenrückstreubeugung (ISO 24173:2024)

Norm [VORAB BEREITGESTELLT]

DIN ISO 24173:2025-11

Mikrobereichsanalyse - Leitfaden zur Messung der Orientierung mit Elektronenrückstreubeugung (ISO 24173:2024)

Englischer Titel
Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction (ISO 24173:2024)
Ausgabedatum
2025-11
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
52

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Ausgabedatum
2025-11
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
52
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/3633393

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Einführungsbeitrag

Dieses Dokument liefert eine Anleitung, wie mit der Elektronenrückstreubeugung (EBSD, englisch: electron backscatter diffraction) verlässliche und reproduzierbare Messungen der kristallographischen Orientierung durchgeführt werden können. Es behandelt die Anforderungen an die Probenvorbereitung, an Gerätekonfiguration, Gerätekalibrierung sowie Datenerfassung. Das zuständige nationale Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-08-18 AA "Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).

Inhaltsverzeichnis

ICS

71.040.50

DOI

https://dx.doi.org/10.31030/3633393
Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt DIN ISO 24173:2013-04 .

Beabsichtigter Ersatz zum 2025-11 für: DIN ISO 24173:2013-04 , DIN ISO 24173:2025-04 .

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN ISO 24173:2013-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Abschnitt 3 aktualisiert; b) "in die Arbeitsposition" in "in der Detektorposition" geändert [siehe 6.6 d)]; c) "7.1 Präparation für die Voruntersuchung" der vorherigen Ausgabe entfällt; d) "Anhang B (normativ)" geändert in "Anhang B (informativ)"; e) Dokument an ISO-Regeln angepasst; f) Dokument redaktionell überarbeitet.

Dokumentenhistorie
VORAB BEREITGESTELLT
2025-11

Norm [VORAB BEREITGESTELLT]

DIN ISO 24173:2025-11
Entwürfe
2025-04 - 2025-11
zur Zurückziehung beabsichtigt
2013-04 - 2025-11

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