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IEC 60147-0:1966

Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 0: Allgemeines und Terminologie

Englischer Titel

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 0: General and terminology

Ausgabedatum

1966

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Originalsprachen

Englisch, Französisch

Seiten

57