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IEC 60147-2B:1970

Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 2: Allgemeine Grundlagen für Meßverfahren; 2. Ergänzung

Englischer Titel: Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
Ausgabedatum: 1970
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 53

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