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IEC 60749-23:2025-12

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Ausgabedatum
2025-12
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
19
Ausgabedatum
2025-12
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
19
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