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IEC 60749-29:2011-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung

Englischer Titel

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

Ausgabedatum

2011-04

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Originalsprachen

Englisch, Französisch

Seiten

48