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IEC 60749-33:2004-03
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
- Ausgabedatum
- 2004-03
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 12
- Ausgabedatum
- 2004-03
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
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