Cookie-Einstellungen
Damit wir unsere Webseiten nutzerfreundlicher gestalten und fortlaufend verbessern, verwenden wir Cookies. Wenn Sie die Webseiten weiter nutzen, stimmen Sie dadurch der Verwendung von Cookies zu. Weitere Informationen erhalten Sie in unseren Datenschutzhinweisen und unserer Cookie-Richtlinie.
Diese Cookies sind für den Betrieb der Seite unbedingt notwendig und ermöglichen beispielsweise sicherheitsrelevante Funktionalitäten. Außerdem können wir mit dieser Art von Cookies ebenfalls erkennen, ob Sie in Ihrem Profil eingeloggt bleiben möchten, um Ihnen unsere Dienste bei einem erneuten Besuch unserer Seite schneller zur Verfügung zu stellen.
Um unser Angebot und unsere Webseite weiter zu verbessern, erfassen wir anonymisierte Daten für Statistiken und Analysen. Mithilfe dieser Cookies können wir beispielsweise die Besucherzahlen und den Effekt bestimmter Seiten unseres Web-Auftritts ermitteln und unsere Inhalte optimieren.
Wir nutzen diese Cookies, um Ihnen die Bedienung der Seite zu erleichtern. So können Sie beispielsweise auf Basis einer vorherigen (z. B. Produktsuche) bei einem erneuten Besuch unserer Webseite komfortabel auf selbige zurückgreifen.
Subuser-Login für Online-Dienste Melden Sie sich hier an, wenn Sie ein Subuser-Login erhalten haben. Das kann der Fall sein, wenn mehrere Mitarbeitende Zugang zum Online-Dienst haben und mit unterschiedlichen Berechtigungen ausgestattet sind (z. B. Bestellungen aufgeben, Dokumente herunterladen). Subuser-Logins werden von der Person im Unternehmen vergeben, die als Hauptnutzer*in registriert ist.
Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr
103 Suchergebnisse
Norm-Entwurf 2026-05
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2943/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-1:2025
Dieser Teil von IEC 63550-1 legt die Prüfverfahren für die Bewertung der grundlegenden Eigenschaften von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die Prüfverfahren in diesem Dokument umfassen ...
22,30 EUR inkl. MwSt.
20,84 EUR exkl. MwSt.
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 2: Bewertungsmethode für die Linearität in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2942/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-2:2025
Dieser Teil von IEC 63550-2 legt die Prüfverfahren für die Bewertung der Linearität von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die in diesem Dokument beschriebenen Prüfverfahren umfassen ...
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 3: Bewertungsmethode für spikeabhängige Plastizität in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2941/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-3:2025
Dieser Teil von IEC 63550-3 legt die Prüfverfahren für die Bewertung der spike-abhängigen Plastizität von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die in dieser Internationalen Norm beschriebenen ...
24,38 EUR inkl. MwSt.
22,79 EUR exkl. MwSt.
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 4: Bewertungsmethode für Asymmetrien in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2940/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-4:2025
Dieser Teil von IEC 63550-4 legt den Schwerpunkt auf die Beurteilung von Asymmetrieeigenschaften, die eine entscheidende Rolle bei der Handhabung von Memristoren mit unausgewogenem Schaltverhalten ...
20,08 EUR inkl. MwSt.
18,77 EUR exkl. MwSt.
Norm [AKTUELL] 2026-01-22
Internet based identifier (IBI) generation system
ab 79,70 EUR inkl. MwSt.
ab 74,49 EUR exkl. MwSt.
Norm-Entwurf 2025-11-10
Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 1: Evaluation method of basic characteristics in memristor devices
88,60 EUR inkl. MwSt.
82,80 EUR exkl. MwSt.
Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 2: Evaluation method of linearity in memristor devices
77,20 EUR inkl. MwSt.
72,15 EUR exkl. MwSt.
Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 3: Evaluation method of spike dependent plasticity in memristor devices
101,70 EUR inkl. MwSt.
95,05 EUR exkl. MwSt.
Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 4: Evaluation method of asymmetry in neuromorphic memristor devices
Technische Regel [AKTUELL] 2022-10
Long-Term Storage for Electronic Solid-State Wafers, Dice, and Devices
Diesen Artikel bestellen wir extra für Sie, daher kann die Lieferung 1-2 Wochen in Anspruch nehmen.
Preis auf Anfrage
1
...
Mit dem Wechsel der Seite geht die aktuelle Auswahl verloren. Was möchten Sie tun?
