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Norm-Entwurf 2026-05
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2943/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-1:2025
Dieser Teil von IEC 63550-1 legt die Prüfverfahren für die Bewertung der grundlegenden Eigenschaften von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die Prüfverfahren in diesem Dokument umfassen ...
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Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 2: Bewertungsmethode für die Linearität in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2942/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-2:2025
Dieser Teil von IEC 63550-2 legt die Prüfverfahren für die Bewertung der Linearität von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die in diesem Dokument beschriebenen Prüfverfahren umfassen ...
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 3: Bewertungsmethode für spikeabhängige Plastizität in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2941/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-3:2025
Dieser Teil von IEC 63550-3 legt die Prüfverfahren für die Bewertung der spike-abhängigen Plastizität von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die in dieser Internationalen Norm beschriebenen ...
24,38 EUR inkl. MwSt.
22,79 EUR exkl. MwSt.
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 4: Bewertungsmethode für Asymmetrien in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2940/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-4:2025
Dieser Teil von IEC 63550-4 legt den Schwerpunkt auf die Beurteilung von Asymmetrieeigenschaften, die eine entscheidende Rolle bei der Handhabung von Memristoren mit unausgewogenem Schaltverhalten ...
20,08 EUR inkl. MwSt.
18,77 EUR exkl. MwSt.
Norm [AKTUELL] 2026-01-22
Internet based identifier (IBI) generation system
ab 79,70 EUR inkl. MwSt.
ab 74,49 EUR exkl. MwSt.
Norm-Entwurf 2025-11-10
Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 1: Evaluation method of basic characteristics in memristor devices
88,60 EUR inkl. MwSt.
82,80 EUR exkl. MwSt.
Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 2: Evaluation method of linearity in memristor devices
77,20 EUR inkl. MwSt.
72,15 EUR exkl. MwSt.
Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 3: Evaluation method of spike dependent plasticity in memristor devices
101,70 EUR inkl. MwSt.
95,05 EUR exkl. MwSt.
Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 4: Evaluation method of asymmetry in neuromorphic memristor devices
Norm-Entwurf 2026-09-04
BS EN IEC 63550-5 Semiconductor devices. Neuromorphic devices. Part 5. Evaluation method of endurance and retention in memristor devices
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ab 24,02 EUR exkl. MwSt.
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